戻る

はじめてのデバイス評価技術

MYブックリストに登録
基本情報
全ての情報
全ての情報を表示基本情報のみを表示
タイトル はじめてのデバイス評価技術
著編者等/著者名等 二川清‖著
出版者 工業調査会
出版年 2000.1
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。
種別 図書
タイトル はじめてのデバイス評価技術
タイトルヨミ ハジメテノデバイスヒョウカギジュツ
シリーズ名 ビギナーズブックス/9
シリーズ名ヨミ ビギナーズブックス9
著編者等/著者名等 二川清‖著
統一著者名 二川清
著編者等ヨミ/著者名等ヨミ ニカワキヨシ
出版者 工業調査会
出版地 東京
出版年 2000.1
大きさ 242p
件名 半導体
分類 549.8,549.8 549.8
ISBN 4-7693-1179-6
マークNo TRC000000000003051
タイトルコード 1009910096911
資料番号 00000000000005839469
請求記号 549.8/10015
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。
種別 図書
配架場所 034B0

新しいMY SHOSHOのタイトル