はじめてのデバイス評価技術
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タイトル | はじめてのデバイス評価技術 |
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著編者等/著者名等 | 二川清‖著 |
出版者 | 工業調査会 |
出版年 | 2000.1 |
内容紹介 | 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。 |
種別 | 図書 |
タイトル | はじめてのデバイス評価技術 |
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タイトルヨミ | ハジメテノデバイスヒョウカギジュツ |
シリーズ名 | ビギナーズブックス/9 |
シリーズ名ヨミ | ビギナーズブックス9 |
著編者等/著者名等 | 二川清‖著 |
統一著者名 | 二川清 |
著編者等ヨミ/著者名等ヨミ | ニカワキヨシ |
出版者 | 工業調査会 |
出版地 | 東京 |
出版年 | 2000.1 |
大きさ | 242p |
件名 | 半導体 |
分類 | 549.8,549.8 549.8 |
ISBN | 4-7693-1179-6 |
マークNo | TRC000000000003051 |
タイトルコード | 1009910096911 |
資料番号 | 00000000000005839469 |
請求記号 | 549.8/10015 |
内容紹介 | 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。 |
種別 | 図書 |
配架場所 | 034B0 |